化学学报 ›› 2007, Vol. 65 ›› Issue (9): 785-792. 上一篇 下一篇
研究论文
张静1,2, 于艳杰3, 王泽新*,1, 秦伟娜4, 刁兆玉1, 郝策3
ZHANG Jing1,2; YU Yan-Jie3; WANG Ze-Xin*,1; QIN Wei-Na4; DIAO Zhao-Yu1; HAO Ce3
应用原子和表面簇合物相互作用的5参数Morse 势及由5参数Morse势组装推广的LEPS方法对H-W低指数表面吸附体系进行了研究, 并获得了全部临界点特性. 计算结果表明, 低覆盖度下, H原子优先吸附在W(100)面的内层吸附位二层桥位B', 获得156 meV的垂直振动频率, 随着覆盖度的增加, H原子稳定吸附在表层的五重洞位(二层顶位)、桥位及顶位. 内层吸附位的优先吸附, 对与其邻近的表面吸附位的临界点性质有一定影响. 在W(110)面上只存在三重洞位的稳定吸附态, 垂直振动频率为151 meV. 在W(111)面上存在三种稳定吸附态, 子表面吸附位H1, 桥位B'和顶位T, 分别获得104, 200, 259 meV的垂直振动频率. 在低覆盖度下, H原子优先吸附在子表面吸附位H1.