化学学报 ›› 2011, Vol. 69 ›› Issue (08): 912-918. 上一篇 下一篇
研究论文
李清临*,1,徐承泰1,贺世伟1,姚政权2
Li Qinglin*,1 Xu Chengtai1 He Shiwei1 Yao Zhengquan2
利用能量色散X射线荧光(EDXRF)探针, 对一批金元时期的钧瓷样品进行了线扫描分析, 以研究钧瓷胎釉间薄层物质的性质及其它相关问题. 结果显示, 胎釉间薄层物质的化学组成介于胎釉之间, 因此其应为在烧制过程中形成的反应层. 分析还发现, 反应层中的K2O含量高于瓷釉和瓷胎, 与其它氧化物均有不同. 推断反应层中K2O含量高的现象, 是瓷釉和反应层中特定的SiO2和Al2O3组成, 硅酸盐玻璃的特定网络结构, 以及SiO2, Al2O3及K2O在玻璃体中的作用和特性等因素的综合作用结果, 而非单纯的K+具有较强的渗透能力所致.