化学学报 ›› 2008, Vol. 66 ›› Issue (21): 2329-2335. 上一篇 下一篇
研究论文
李党国*,a 陈大融a 冯耀荣b 白真权b 郑茂盛b
(a清华大学摩擦学国家重点实验室 北京 100084)
(b中国石油天然气集团公司管材研究所 西安 710065)
LI, Dang-Guo *,a CHEN, Da-Rong a FENG, Yao-Rong b
BAI, Zhen-Quan b ZHENG, Mao-Sheng b
借助于Mott-Schottky方程分析了成膜电位、成膜时间、成膜温度以及氯离子等因素对22Cr双相不锈钢在碳酸氢钠/碳酸钠缓冲溶液中所成钝化膜半导体性能的影响, 同时借助于X射线光电子能谱(XPS)技术分析了所成钝化膜的组成. 结果表明: 22Cr双相不锈钢在碳酸氢钠/碳酸钠缓冲溶液中所成钝化膜呈n-p型半导体结构, 钝化膜内施主/受主密度随成膜电位增加、成膜时间延长、成膜温度降低、以及介质中氯离子浓度的降低而减小, 同时膜对基体保护作用随这些因素变化而增强. 钝化膜的XPS分析表明, 钝化膜呈现双层结构, 外层膜主要由三价铁的氧化物(Fe2O3)组成, 内层膜主要由三价铬氧化物(Cr2O3)以及少量二价铁氧化物(FeO)组成.