兹测得镉与硫氰酸根络合物的逐级稳定常数为K1=23.0,K2=123,K3=242,K4=302,K5=166和 K6=53(25°),离子强度等于3,用来维持离子强度的惰性电解质是高氯酸钠。改进了测定半波电势的方法使ΔE1/2的误差小于±0.2mv。在处理数据时以logy和(L)对画来代替Leden和Fronaeus法的y和(L)对画,所得结果较为准确。
引用此文
蒋洪圻, 徐光憲. 金属络合物的极谱研究 Ⅱ.硫氰酸根和镉的络合物[J]. 化学学报, 1957, 23(3): 196-200.
TSIANG HON-GEE, HSU KWANG-HSIEN. POLAROGRAPHIC STUDIES OF METAL COMPLEXES Ⅱ.THE CADMIUM-THIOCYANATE SYSTEM[J]. Acta Chimica Sinica, 1957, 23(3): 196-200.
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